이엘피는 디스플레이 패널의 양측 얼라인 및 검사장치 관련 특허권을 취득했다고 3일 공시했다.
이번 특허는 양면의 Contact PAD를 대응하기 위해 양측으로 얼라인이 가능한 구조이며, 여러 사이즈의 패널을 대응하기 위해 검사장치의 전체 사이즈를 가변할 수 있는 구조의 검사장치에 대한 기술이다.
특허 활용계획에 대해 회사 측은 “OLED 패널검사를 위한 제조 장비의 경쟁력 강화”라고 설명했다.
이번 특허는 양면의 Contact PAD를 대응하기 위해 양측으로 얼라인이 가능한 구조이며, 여러 사이즈의 패널을 대응하기 위해 검사장치의 전체 사이즈를 가변할 수 있는 구조의 검사장치에 대한 기술이다.
특허 활용계획에 대해 회사 측은 “OLED 패널검사를 위한 제조 장비의 경쟁력 강화”라고 설명했다.
뉴스웨이 고병훈 기자
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